Compact Linie

Die Compact Line wurde entwickelt, um den Anforderungen der sogenannten “lean production” zu entsprechen, unter Berücksichtigung der Anforderungen bei der Produktion von elektronischen Baugruppen. Sie ist ergonomisch durchdacht und technologisch konkurrenzfähig , bietet die höchste Flexibilität, mit hoher Messgenauigkeit, hoher Testgeschwindigkeit, auf kleinem Platz mit minimaler Standfläche und mit geringem Verbrauch ist sie so ein Spitzenprodukt.

Die Compact-Systeme von Seica repräsentieren otimale Lösungen für:

- analoge und digitale In-Circuit Test
- analogen, digitalen und Power Funktionstest
- Boundary Scan Test
- Digitale Komponentenprogrammierung (OBP von Controllern, Memories, etc…)
- Hochspannungstest

Compact Line ist characterisiert durch die Erforschung der Optimierung von Testkosten , mit spezieller Aufmerksamkeit auf die Platzreduzierung (Standfläche und Gesamtdimensionen), Zeiten (für den Test) und generell von Verlusten, bietet sie die volle Kompatibilität zur Strategy Linie in Bezug auf Programmen und Prüfadapter. Alle Systeme der Compact Linie basieren auf der Seica VIP Plattform, den umfassenden Eigenschaften der ACL synthetisierten Drive und Sense Instrumente und der VIVA Management Software; aber falls erforderlich, können die Systeme der Compact Linie auch durch ein alternatives Software Packet gesteuert werden, wie LabviewTM, LabWindowsTM/CVI und TestStandTM von National Instruments.

Die Compact Linie umfasst unterschiedliche Modelle um den größtmöglchen Bereich von Ökonomik und technischen Anforderungen zu entsprechen.

Compact TK - Stand-Alone Konfiguration für ICT/OBP
Compact Multi - Stand-Alone Konfiguration für ICT/OBP/Funktionstest
Compact SL - In-line Konfiguration für ICT/OBP/Funktionstest
Compact Power - Stand-Alone Konfiguration für Leistungsfunktionstests